樣品池

樣品池是用來分散樣品的器件。

控制面板

系統(tǒng)中超聲時間、攪拌速度、循環(huán)速度和排液等參數(shù)都由軟件控制面板來控制，其中超聲時間、攪拌速度和循環(huán)速度都是連續(xù)調節(jié)，設置數(shù)字顯示。

攪拌器

攪拌器是用來均化的器件，攪拌速度通過控制面板連續(xù)可調，設置數(shù)字顯示。

攪拌支撐臂

支撐臂是支撐攪拌的器件，在加入液體時需要把支撐臂抬起。

頂蓋

頂蓋是樣品池和支撐臂上的蓋子。

導軌

支撐整個光路系統(tǒng)的構架，整個導軌為一體結構，不變形。

樣品窗

是檢測樣品的窗口，只有流經樣品窗的顆粒才會被檢測，樣品窗內外必須保持潔凈。

探測器陣列

是非均勻交叉三維扇形距陣陣列，能夠很好的分辨測量范圍內的顆粒粒度分布。

高速數(shù)據(jù)線

數(shù)據(jù)線是儀器和計算機通訊的電纜線。

通訊口

通訊口是儀器的連接接口，采用三口的航空插頭。

基準

又稱為背景，是動態(tài)測量的基礎。

分散劑

又稱表面活性劑，是解決顆粒與介質表面浸潤問題的試劑，它的加入不影響顆粒的粒度。常用的有：焦磷酸鈉、六偏磷酸鈉等。

分散介質

分散介質是顆粒用來分散的介質，常用的有：水（蒸餾水）、乙醇和溶劑油等。

表面活性劑

又稱分散劑，見分散劑。

超聲分散

超聲系統(tǒng)*的特性，能夠分散一些團聚的顆粒，超聲分散不改變顆粒的粒度，只是把團聚的顆粒分散開，這種分散在學術上稱為空化。

均化

就是均勻化，是指把顆粒均勻的分散到分散介質中，避免顆粒一縷縷或一團團的經過樣品窗。

動態(tài)測量

動態(tài)測量是把動態(tài)采集到的結果，經過計算機迅速處理，并顯示到計算機屏幕上。

隨機存儲

動態(tài)顯示的結果只是瞬間駐留在內存中，并沒有保存到文件中，隨機存儲就是點一下按鍵，保存一個動態(tài)結果。

定時存儲

定時存儲是設定一個間隔時間，軟件會按照間隔時間將記錄保存到文件中。

數(shù)據(jù)表

數(shù)據(jù)表是將粒徑點、微分百分含量和累積百分含量，以表格的形式顯示。在改變粒徑結點的情況下可以顯示成多種形式：對數(shù)方圖粒度分布、自定義粒度分布、R-R分布和篩分分布。

粒度分布圖

數(shù)據(jù)表是將粒徑點、微分百分含量和累積百分含量，以圖形的形式顯示，可以直觀的看出顆粒的粒度分布圖形及規(guī)律。

R-R分布

R-R分布是一種統(tǒng)計規(guī)律的分布形式。

標準分布

標準分布是按照軟件和硬件的自然設置，得出的顆粒的粒度分布。標準分布的粒徑點是使用系統(tǒng)默認的130個粒度分級。

自定義分級分布

自定義分級分布和標準分布主要區(qū)別是粒徑點的不同，自定義分級，就是自定義粒徑點。

篩分分布

篩分分布是按照篩分標準中目和微米的對應關系，求去與篩網(wǎng)對應的篩余物的百分比，一般的篩余百分比對應粒度分布中D97。

對數(shù)方圖

對數(shù)方圖的形式相當于函數(shù)中的分段函數(shù), 求出函數(shù)中任何點的百分比是不可能的，采用合理的多次插值方法，能夠得到連續(xù)的粒度分布曲線，更加合理的描述粒度分布。

目

目是篩分中的單位，目和微米的對應關系見下表。

顆粒折射率

顆粒折射率是指顆粒對光的發(fā)散和吸收的現(xiàn)象。實部對應發(fā)散，虛部對應吸收，請參閱顆粒折射率表

介質折射率

介質折射率是光在介質中傳播的速度和在真空中傳播速度的比值，請參閱介質折射率表。

用戶及密碼

用戶可以自己設置登陸的用戶名和密碼，如果刪除全部密碼可以不用輸入用戶名而登陸，請參閱用戶及密碼。

自定義累積粒徑點

需要統(tǒng)計的累積粒徑點，可以在軟件中更改并保存。

自定義累積百分比點

需要統(tǒng)計的自定義百分比點，一般設置為D3和D97，因為多數(shù)情況下用這兩個點來表示小和大顆粒。

D50、D10、D90

D50：表示粒度分布中占50%所對應的粒徑，又稱中位徑

D10：表示粒度分布中占10%所對應的粒徑

D90：表示粒度分布中占90%所對應的粒徑

Dav、S/V

Dav：表示粒度分布的平均粒徑

S/V：比表面積，系統(tǒng)可以選擇體積比表面積或重量比表面積。

擬合系數(shù)

指顆粒群的中位徑與平均粒徑的比值，表示顆粒群的粒徑分布與正態(tài)分布的偏離程度。

標稱值、平均值

每種標準樣都有一個標準的經過認可的粒徑，稱為標稱值。

多次測量結果求平均后的結果，稱為平均值。

標準偏差

統(tǒng)計學的概念，幾次測量結果在平均值左右的偏移程度，表示測量結果的準確性和重復性。