GNR，EXPLORER多功能 X 射線衍射儀，分析固體或液體樣品的元素信息和結構參數(shù)

 GNR，EXPLORER多功能 X 射線衍射儀，分析固體或液體樣品的元素信息和結構參數(shù)

意大利 GNR 公司是 X 射線產品（XRD、TXRF），擁有巨大的技術優(yōu)勢，能為客戶提供完整元素分析方案。

GNR 的光譜分析儀器可以滿足客戶在材料研究、質量控制、過程分析和生命科學等領域的不同分析需求。

分析方法可以提供固體或液體樣品的元素信息，同樣亦可提供粉末、薄膜和塊狀樣品的結構參數(shù)。

EXPLORER  的模塊化設計，為儀器提供了廣闊的升級空間，通過升級儀器可以滿足新的分析需求。

我們可以為您提供多種配置，如范圍更寬的 X 射線源、光路、樣品臺和檢測器等，可以滿足各種應用需求。

EXPLORER  在幾乎所有的分析領域都有著出色的性能，例如可以測量混合物質的相態(tài) ; 可以檢測微觀的結構性質，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應力和晶體取向等。

由于采用了模塊化設計，EXPLORER 的全部組件可以拆分為 7 個模塊，同時可以在 5 個獨立自由度上檢測樣品，適用于全部的粉末、薄膜和塊狀樣品。

EXPLORER 的應用范圍非常廣泛，可以進行常規(guī)的晶相識別和定量， 可以分析晶體尺寸、晶格應變及結晶度的計算；同樣可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結構分析、殘余應力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向、納米粒子分析。

儀器光學系統(tǒng)可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johannson 或拋面鏡單色器自由切換。

高分辨的反射技術，讓檢測厚度精確至 1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，從而可以進行薄膜或層次分析。

將拋面鏡單色器與晶體開槽技術有機結合，并安裝在入射光束上， 可以獲得高強度、低散射適合高分辨率測量的平行單色光。

*，簡便的操作軟件實測檢測工作更加簡單，軟件同時具有許多先進的功能，可以幫助用戶對復雜的譜圖進行分析。

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