XOS單波長(zhǎng)X熒光硫含量分析儀，麥拉膜2.5μm，貨號(hào)250335-02

XOS單波長(zhǎng)X熒光硫含量分析儀，麥拉膜2.5μm，貨號(hào)250335-02

麥拉膜2.5μm；XOS樣品膜

薄膜可與樣品杯一起用作樣品支撐窗。只需將薄膜貼在新樣品杯的一端即可。與 Clora、Signal、Maxine 和 Phoebe 臺(tái)式分析儀一起使用

本產(chǎn)品可與以下分析儀一起使用：
HD Maxine® (#401754-02m)
HD Maxine® with Accu-Flow (#401754-02mFT)
Phoebe® (#401852-01m)
Phoebe® with Accu-Flow (#401852- 01mFT)
Clora® 2XP (#402494-02mXR)
Signal® (#401560-02m)

（停產(chǎn)分析儀）
HD Maxine® (#401617-01)
HD Maxine® (#401754-02)

我需要放空樣品嗎？

對(duì)于 Sindie、Clora、Signal 和 Phoebe 等 MWDXRF 分析儀，建議放空所有樣品，包括非揮發(fā)性樣品。Petra 分析儀不需要排氣，但如果您的標(biāo)準(zhǔn)操作程序需要，則允許排氣。如果對(duì) Petra 樣品進(jìn)行排氣，請(qǐng)確保在 12 點(diǎn)鐘位置（而不是中心）對(duì)杯進(jìn)行排氣，以防止泄漏樣品。

XOS 單波長(zhǎng)X熒光硫含量分析儀

XOS 單波長(zhǎng)X熒光氯含量分析儀

XOS 單波長(zhǎng)X熒光磷含量分析儀

XOS 手持X熒光多元素分析儀

應(yīng)用領(lǐng)域:

總硫含量的分析，覆蓋從超低硫燃料到原油的廣泛應(yīng)用

適用于煉油廠實(shí)驗(yàn)室、管道終端、船上、添加劑廠、檢測(cè)車和檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室

XOS公司總部位于紐約, 隸屬于美國(guó)丹納赫公司(NYSE:DHR）。XOS是*的元素分析設(shè)備和關(guān)鍵性應(yīng)用材料生產(chǎn)商，X射線光學(xué)技術(shù)DCC®,針對(duì)不同的客戶和應(yīng)用提供特定的元素分析解決方案。

XOS產(chǎn)品創(chuàng)新的單色波長(zhǎng)色散X射線熒光技術(shù)(MWD XRF)以及高精度X射線熒光技術(shù)(HD XRF)，采用DCC®聚焦單色反射鏡光學(xué)系統(tǒng)。與傳統(tǒng)的XRF系統(tǒng)相比，提高了單色激發(fā)光的強(qiáng)度，降低了背景噪聲，減少了儀器對(duì)基體效應(yīng)的敏感度，從而大大改善了信噪比以及檢測(cè)下限和測(cè)量精確度；新技術(shù)確保了分析儀既有*的檢測(cè)性能和檢測(cè)精度，又使用方便，操作可靠。XOS產(chǎn)品應(yīng)用廣泛，涵蓋眾多的行業(yè)和領(lǐng)域。

在石化行業(yè)，XOS能夠提供廣泛的便攜式、實(shí)驗(yàn)室*以及在線的過(guò)程分析儀，主要用于原油煉制過(guò)程的防腐蝕檢測(cè)，以及過(guò)程控制和成品油的品質(zhì)控制，包括硫，氯，硅，磷，釩, 鎳, 砷, 鐵, 鉛等元素分析。無(wú)論是單一元素還是多元素檢測(cè)，客戶只需一鍵操作就能獲得*的精確測(cè)量結(jié)果。

在消費(fèi)品安全和合規(guī)檢測(cè)應(yīng)用中，例如兒童用品，玩具、服裝以及電子產(chǎn)品等，XOS提供的高分辨率XRF (HDXRF®) 分析儀能夠無(wú)損檢測(cè)其中的重金屬和毒性元素，大大縮短了分析時(shí)間并降低了系統(tǒng)復(fù)雜程度，聚焦激發(fā)光技術(shù)讓分析區(qū)域直徑小至1mm，對(duì)小面積和不規(guī)則形狀樣品分析準(zhǔn)確；多束單色光激發(fā)能分別測(cè)出涂層和基體中的有毒元素成分，這是傳統(tǒng)XRF技術(shù)無(wú)法做到的。 在環(huán)保行業(yè)，XOS產(chǎn)品主要用于工業(yè)和市政廢水以及土壤中的重金屬檢測(cè)，包括鉛，砷，鎘，鋅等多達(dá)幾十種元素，分析精確快速。分析儀無(wú)需試劑和化學(xué)消耗品以及樣品預(yù)處理，方便快捷。

美國(guó)XOS公司作為分析儀器生產(chǎn)商的技術(shù)供應(yīng)商（OEM），能夠?yàn)閮x器生產(chǎn)商提供X射線光學(xué)技術(shù)和子系統(tǒng)，加強(qiáng)X射線分析儀器的分析